柱性能降低特征
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问题根源
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问题来源
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解决方案
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高柱流失-选择性改变/漂移-保留时间位移-基线不稳-峰拖尾-检测器喷嘴堵塞及反常的信号水平
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载气流路中存在氧气-柱失效
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使用了低纯度的载气-气路连接有泄漏-仪器易泄漏处:进样口、调压阀、压力阀-流路中与死体积相连的室气垂直检测
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使用高纯载气-使用捕集阱-恰当的预检测-仪器检漏-低温冲柱较长时间-避免高温实验-更换色谱柱
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峰拖尾-信号不稳或检测器噪音-保留时间漂移
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气路中有水分-样品污染-温度超过温度限造成的热损伤
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系统长时间关闭-低纯度载气-大量引入脏的样品
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在气路中使用捕集阱-通气净化-若无必要切勿关闭仪器-样品前处理-修剪污染柱端0.1-0.5m
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加速柱流失-明显的选择性改变-严重峰拖尾-峰展宽
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热损伤
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柱温超过温度限-过高的进样口/检测器温度-结合氧化、持续时间及柱温
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流失多不可改变-修剪柱两端0.5-1 m-降低使用温度-更换高纯载气
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| 柱断裂 |
人为因素-仪器因素-柱本身问题 |
柱不牢固-压力变化-快速升温/降温程序-柱螺母过紧 |
EPC缓慢设置载气压力-减缓温度程序-螺母连接断裂柱-重新装柱 |